Nombreux sont les secteurs industriels qui nécessitent des moyens de mesure et de contrôles thermiques toujours plus performants, capables de cartographier des anomalies minuscules sur des pièces de grande taille tout en étant réalisés à des cadences élevées (typiquement de l’ordre de la milliseconde) sur de larges plages de température.
Or, la présence de surfaces hétérogènes constitue un frein pour les mesures par thermographie car elles sont caractérisées par des émissivités différentes qui rendent toute mesure rapide (« temps réel ») particulièrement délicate dans les conditions réelles.
En vu de contourner ce problème, un projet de recherche national regroupant notamment le LAAS-CNRS et l’Institut National des Sciences Appliquées de Toulouse a été mené. Le but est de développer une nouvelle méthode : une technique matricielle de mesure de champs de températures vraies qui est capable de prendre en compte les variations d’émissivité en ligne sur des procédés dynamiques mettant en jeu des matériaux opaques. Cette méthode, prénommée thermoréflectométrie, a fait l’objet d’une thèse qui vient d’être publiée.
Cette nouvelle approche repose sur le couplage d’une étape classique de thermographie avec une étape de réflectométrie laser. Elle est applicable sur tout type de matériaux opaques, dans la gamme [300-1000]°C.
Source Newsletter Aftib N°12 : http://www.aftib.org/index.php
